Analisatore di parametri semiconduttori CPU doppia tensione massima 40V LCR 0,56ms 10 contenitori
Analizzatore di parametro a semiconduttore
,Lcr analizzatore
,analisi dei semiconduttori
TH511 Analisatore CV semiconduttore: doppia CPU, Max.Voltage ±40V, LCR 0,56ms, 10 Bins
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Applicazione nei test e nella caratterizzazione: la sorgente di corrente a bias continua è ampiamente utilizzata nei test e nella caratterizzazione di componenti elettronici, come transistor, diodi,circuiti integrati (IC)Permette di valutare il comportamento del dispositivo in condizioni di bias specifico, facilitando la misurazione di parametri come guadagno, linearità, corrente di perdita e tensione di soglia.In aggiunta, viene utilizzato nella taratura delle apparecchiature di misura, garantendo risultati accurati e tracciabili.
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Caratteristiche
10schermo touch capacitivo da 0,1 pollici, risoluzione 1280*800, sistema Linux
Architettura a doppia CPU, la velocità di prova più veloce della funzione LCR è di 0,56 ms
Tre metodi di prova: prova spot, scansione di lista e scansione grafica (opzionale)
Quattro parametri parassitari (Ciss, Coss, Crss, Rg) sono misurati e visualizzati sullo stesso schermo
Scansione curva CV, scansione curva Ciss-Rg
Progettazione integrata: fonte di bassa tensione LCR + VGS + fonte di alta tensione VDS + commutazione dei canali + PC
Test standard a 2 canali, che può testare due dispositivi o dispositivi dual-chip contemporaneamente, il canale può essere ampliato a 6, i parametri del canale sono memorizzati separatamente
Carica rapida, accorcia il tempo di carica del condensatore e consente test rapidi
Impostazione automatica del ritardo
L'indicatore di pressione deve essere in grado di rilevare le pressioni di carico.
Sortare 10 casse
Applicazioni
Componenti semiconduttori/componenti di potenza
Test di capacità parassitaria e analisi delle caratteristiche C-V di diodi, triodi, MOSFET, IGBT, tiristori, circuiti integrati, chip optoelettronici, ecc.
Materiale semiconduttore
Analisi delle caratteristiche del wafer C-V
Materiale a cristalli liquidi
Analisi della costante elastica
Elemento di capacità
Prova e analisi delle caratteristiche C-V del condensatore, prova e analisi del sensore capacitivo
Specificità
| Modello | TH511 | TH512 | TH513 | ||||
| Canale | 2 (4/6 Ch facoltativo) | 2 | |||||
| Visualizzazione | Visualizzazione | 10schermo touchscreen capacitivo da 0,1 pollici | |||||
| Rapporto | 0.672916667 | ||||||
| Risoluzione | 1280*RGB*800 | ||||||
| Parametro di prova | Ciss, Coss, Crss, Rg. Quattro parametri selezionabili arbitrariamente | ||||||
| Frequenza di prova | Distanza | 1kHz-2MHz | |||||
| Accuratezza | 0.0001 | ||||||
| Risoluzione | 10mHz1.00000kHz-9.99999kHz | ||||||
| 100mHz10.0000kHz-99.9999kHz | |||||||
| 1Hz100.000kHz-999.999kHz | |||||||
| 10Hz1.00000MHz-2.00000MHz | |||||||
| Livello di prova | Intervallo di tensione | 5mVrms-2Vrms | |||||
| Accuratezza | ± (10%*Valore di impostazione+2mV) | ||||||
| Risoluzione | 1mVrms5mVrms-1Vrms | ||||||
| 10mVrms1Vrms-2Vrms | |||||||
| Vgs | Distanza | 0 - ±40V | |||||
| Accuratezza | 1%* Tensione di regolazione + 8 mV | ||||||
| Risoluzione | 1mV0V - ±10V | ||||||
| 10mV10V - ±40V | |||||||
| Vds | Distanza | 0 - 200 V | 0 - 1500 V | 0 - 3000V | |||
| Accuratezza | 1%* Tensione di regolazione + 100 mV | ||||||
| Impedanza di uscita | 100, ± 2%@1 kHz | ||||||
| Calcolo | Diviazione assoluta dal valore nominale, percentuale di deviazione dal valore nominale | ||||||
| Funzione di taratura | Aperto, corto, carico | ||||||
| Media di misura | 1-255 volte | ||||||
| Tempo di conversione AD (ms/tempo) | Veloce +: 0,56 ms (> 5 kHz), veloce: 3,3 ms, medio: 90 ms, lento: 220 ms. | ||||||
| Accuratezza di base | 0.001 | ||||||