Invia messaggio
Casa > prodotti > Tester per microohm > 10hz-2mhz Semiconduttore C-V Analisatore di caratteristiche Cv Analisatore di capacità Analisatore di tensione

10hz-2mhz Semiconduttore C-V Analisatore di caratteristiche Cv Analisatore di capacità Analisatore di tensione

Categoria:
Tester per microohm
Specifiche
Evidenziare:

Analisi delle caratteristiche C-V da 10 Hz a 2 MHz

,

Analisti di tensione di 10 Hz-2 MHz

,

10hz-2mhz Analisatori CV

Introduzione

TH511 10Hz-2MHz Semiconduttore C-V Characteristic Analyzer CV Analyzer

Una sorgente di corrente a bias continua è un dispositivo elettronico che fornisce una corrente continua (DC) costante e regolabile per biasare componenti e circuiti elettronici.È comunemente utilizzato in varie applicazioni in cui è richiesto un bias DC, come nel test, nella caratterizzazione e nella taratura dei dispositivi elettronici

Caratteristiche

• schermo touch capacitivo da 10,1 pollici, risoluzione 1280*800, sistema Linux

• Dual CPU architecture, la velocità di prova più veloce della funzione LCR è di 0,56 ms

• Tre metodi di prova: test spot, scansione di lista e scansione grafica (opzionale)

• Quattro parametri parassitari (Ciss, Coss, Crss, Rg) vengono misurati e visualizzati sullo stesso schermo

• Scansione curva CV, scansione curva Ciss-Rg

• Progettazione integrata: LCR + sorgente di bassa tensione VGS + sorgente di alta tensione VDS + commutazione dei canali + PC

• Test standard a 2 canali, che può testare due dispositivi o dispositivi a doppia chip contemporaneamente, il canale può essere ampliato a 6, i parametri del canale sono memorizzati separatamente

• Ricarica rapida, riduce il tempo di ricarica del condensatore e consente test rapidi

• Impostazione automatica del ritardo

• Bias elevato: VGS: 0 - ±40V, VDS: 0 - 200V/1500V/3000V

• Sortire 10 casse

 

Applicazioni

• Componenti semiconduttori/componenti di potenza

Test di capacità parassitaria e analisi delle caratteristiche C-V di diodi, triodi, MOSFET, IGBT, tiristori, circuiti integrati, chip optoelettronici, ecc.

• Materiale semiconduttore

Analisi delle caratteristiche del wafer C-V

• Materiale a cristalli liquidi

Analisi della costante elastica

• Elemento capacitivo

Prova e analisi delle caratteristiche C-V del condensatore, prova e analisi del sensore capacitivo

10hz-2mhz Semiconduttore C-V Analisatore di caratteristiche Cv Analisatore di capacità Analisatore di tensione

10hz-2mhz Semiconduttore C-V Analisatore di caratteristiche Cv Analisatore di capacità Analisatore di tensione10hz-2mhz Semiconduttore C-V Analisatore di caratteristiche Cv Analisatore di capacità Analisatore di tensione

 

Specificità

Modello TH511 TH512 TH513
Canale 2 (4/6 Ch facoltativo) 2
Visualizzazione Visualizzazione 10schermo touchscreen capacitivo da 0,1 pollici
Rapporto 0.672916667
Risoluzione 1280*RGB*800
Parametro di prova Ciss, Coss, Crss, Rg. Quattro parametri selezionabili arbitrariamente
Frequenza di prova Distanza 1kHz-2MHz
Accuratezza 0.0001
Risoluzione 10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz
100mHz 10,0000kHz-99,9999kHz
1 Hz 100.000 kHz-999,999 kHz
10 Hz 1,00000 MHz-2,00000 MHz
Livello di prova Intervallo di tensione 5mVrms-2Vrms
Accuratezza ± (10%*Valore di impostazione+2mV)
Risoluzione 1mVrms 5mVrms-1Vrms
10mVrms 1Vrms-2Vrms
Vgs Distanza 0 - ±40V
Accuratezza 1%* Tensione di regolazione + 8 mV
Risoluzione 1mV 0V - ±10V
10mV ±10V - ±40V
Vds Distanza 0 - 200 V 0 - 1500 V 0 - 3000V
Accuratezza 1%* Tensione di regolazione + 100 mV
Impedanza di uscita 100Ω, ± 2%@1kHz
Calcolo Diversione assoluta Δ dal valore nominale, percentuale di diversione dal valore nominale Δ%
Funzione di taratura Aperto, corto, carico
Media di misura 1-255 volte
Tempo di conversione AD (ms/tempo) Veloce +: 0,56 ms (> 5 kHz), veloce: 3,3 ms, medio: 90 ms, lento: 220 ms.
Accuratezza di base 0.001
Ciss, Coss, Crss 0.00001pF - 9.99999F
Rg 0.001mΩ - 99.9999MΩ
Δ% ± 0,000% - 999,9%)
Scansione della lista dei parametri multifunzione Pelle 20 punti, il numero medio può essere impostato per ogni punto, e ogni punto può essere ordinato separatamente
Parametro Frequenza di prova, Vg, Vd, canale
Modalità di attivazione Sequenza SEQ: dopo un trigger, misurare in tutti i punti di scansione, uscita /EOM/INDEX una sola volta.
Passo: eseguire una misurazione del punto di scansione per ogni trigger, ogni punto produce /EOM/INDEX, ma il risultato del comparatore di scansione dell'elenco viene prodotto solo all'ultimo /EOM
Scansione grafica Luoghi di scansione Qualsiasi punto è opzionale, fino a 1001 punti
Visualizzazione dei risultati più curve con lo stesso parametro e Vg diverso;
più curve con la stessa Vg e parametri diversi.
Distanza di visualizzazione Automatica in tempo reale, bloccata
Regola di coordinate Logaritmica, lineare
Parametro Vg, Vd
Modalità di attivazione Non sposato Trigger manuale una volta, completare una scansione dal punto di partenza al punto finale, e iniziare una nuova scansione con il segnale di trigger successivo
Continuo Scansione a ciclo infinito dal punto di partenza al punto finale
Immagazzinamento dei risultati Grafica, file
Comparatori Cestino 10Bin, PASS, FAIL
Impostazione della deviazione del contenitore Diviazione, percentuale di deviazione, disattivata
Modalità contenitore Tolleranza, continua
Conteggio contenitori 0-99999
Bin Giudizio Per ciascun bin possono essere impostati un massimo di quattro intervalli limite di parametri, il numero di bin corrispondente viene visualizzato nell'intervallo di impostazione dei risultati dei quattro parametri di prova.Se supera il numero massimo di bin impostatoI parametri di prova senza limiti superiori e inferiori saranno automaticamente ignorati.
Indicazione PASS/FAIL Soddisfare Bin1-10, la luce PASS sul pannello anteriore è accesa, altrimenti la luce FAIL è accesa.
Immagazzinamento dati 201 i risultati delle misurazioni possono essere letti in lotti
File di memorizzazione Interno Circa 100M file di configurazione di test di memoria non volatile
USB esterno File di configurazione di prova, screenshot, file di log
Blocco tastiera Buttoni bloccabili del pannello anteriore, altre funzioni da ampliare
Interfaccia USB HOST 2 interfacce USB HOST, che possono essere connesse al mouse e alla tastiera contemporaneamente e può essere utilizzato contemporaneamente un solo disco U
Dispositivo USB presa di bus seriale universale, piccolo tipo B (4 posizioni di contatto); conforme a USB TMC-USB488 e USB2.0, connettore femminile per la connessione dei controller esterni.
LAN 10/100M Ethernet, 8 pin, due opzioni di velocità
DISPONENTE Utilizzato per l'uscita del segnale Bin
RS232C 9 pin standard, incrociati
RS485 Può ricevere modifiche o moduli RS232 a RS485 esterni
Tempo di riscaldamento 60 minuti.
Voltaggio di ingresso 100-120VAC/198-242VAC Opzione, 47-63Hz
Consumo di energia Altri dispositivi per la trasmissione di energia
Dimensioni (W*H*D) mm 430*177*405
Peso 12 kg

 

 

Accesorio

Norme
Nome degli accessori Modello  
Fabbricazione di prova TH26063B 10hz-2mhz Semiconduttore C-V Analisatore di caratteristiche Cv Analisatore di capacità Analisatore di tensione
Fabbricazione di prova TH26063C 10hz-2mhz Semiconduttore C-V Analisatore di caratteristiche Cv Analisatore di capacità Analisatore di tensione
Cavo di connessione per il comando dell'apparecchio TH510 TH26063D 10hz-2mhz Semiconduttore C-V Analisatore di caratteristiche Cv Analisatore di capacità Analisatore di tensione
TH510 Cavo di estensione di prova TH26063G 10hz-2mhz Semiconduttore C-V Analisatore di caratteristiche Cv Analisatore di capacità Analisatore di tensione

 

Invii il RFQ
Di riserva:
MOQ: